定制化夹具

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根据客户的测试需求,定制相关夹具:

1、自定义背板/连接器,国内外分立电阻电容电感器件, 自研芯片、线缆等测试夹具

2、符合测试标准,精确测量客户待测物的真实性能

3、可根据测试场景选择TRL/ISD/AFR等多种去嵌方法,均能完全去除夹具的影响,去嵌精度:回损-40dB@67GHz,插损±0.1dB@67GHz

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国产分立器件测试夹具

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5G天线连接器夹具测试

去嵌精度&测试精度

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去嵌方式对比

可以使用多种不同的去嵌方式实现测试产品DUT,均能保证高精度的去嵌测试

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TRL校准精度

TRL去嵌精度做到50Ghz+,IL小于±0.1db,RL小于-35db。

仿测校准案例

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带SMA头的仿真测试拟合

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插损回损拟合

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TDR阻抗拟合